上海菁華 754自動(dòng)波長(zhǎng)紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)詳細(xì)介紹：

儀器采用光柵C-T式單光束結(jié)構(gòu)光路，光學(xué)系統(tǒng)由鹵鎢燈或氘燈發(fā)出的連續(xù)輻射經(jīng)聚光鏡聚光后投向單色器入射狹縫，此狹縫正好處于聚光鏡及單色器內(nèi)準(zhǔn)直鏡的焦平面上，因此進(jìn)入單色器的復(fù)合光通過(guò)平面反射鏡及準(zhǔn)直鏡變成平行光射向色散元件光柵，光柵將入射的復(fù)合光通過(guò)衍射作用形成按照一定順序均勻排列的連續(xù)單色光譜后，射向球面反射鏡。由于儀器出射狹縫設(shè)置在該球面反射鏡的焦平面上，這樣，從光柵色散出來(lái)的單色光譜經(jīng)球面反射鏡聚光后成象在出射狹縫上，出射狹縫選出帶寬的單色光通過(guò)聚光鏡聚光落在樣品室被測(cè)樣品中心，樣品吸收后透射的光射向光電池接收面。

上海菁華 754自動(dòng)波長(zhǎng)紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)功能特性：

1200L/mm紫外光柵，C-T單色器結(jié)構(gòu)。

樣品室可擴(kuò)展至10cm樣品架。

自動(dòng)設(shè)置波長(zhǎng)，自動(dòng)調(diào)0%T/ T，T/A的轉(zhuǎn)換。

具有自動(dòng)修正波長(zhǎng)誤差、光源自動(dòng)切換等功能。

儀器具有光度、定量、標(biāo)準(zhǔn)曲線等功能

采用低雜散光、高分辨率的光柵型單光束光路結(jié)構(gòu)，具有良好的穩(wěn)定性，重現(xiàn)性，光度線性和準(zhǔn)確的測(cè)量讀數(shù)。更小的光譜帶寬可滿足常規(guī)分析測(cè)試項(xiàng)目的要求。

采用優(yōu)化設(shè)計(jì)和微處理技術(shù)，使儀器具有波長(zhǎng)自動(dòng)設(shè)置、光源自動(dòng)切換位置、波長(zhǎng)自動(dòng)校正，具有自動(dòng)調(diào)0%T和100T，氘燈和鎢燈開(kāi)關(guān)自動(dòng)控制等控制功能，以及T、A、C、F等測(cè)試方式。

主機(jī)具有光度測(cè)試功能（固定波長(zhǎng)下測(cè)試吸光度或透射比值），具有定量測(cè)試功能，采用標(biāo)準(zhǔn)品對(duì)照法、標(biāo)準(zhǔn)系數(shù)法和線性回歸分析法（顯示屏顯示一元線性回歸方程及相關(guān)系數(shù)）來(lái)直接測(cè)定待測(cè)樣品的濃度，此外還可以存儲(chǔ)、調(diào)用、刪除線性回歸方程。

LCD數(shù)字顯示器可清晰顯示透射比、吸光度和濃度等參數(shù)，提高儀器的讀數(shù)準(zhǔn)確性。

配有標(biāo)準(zhǔn)RS-232通訊接口的型號(hào)，可以連接計(jì)算機(jī)運(yùn)行用戶應(yīng)用軟件，具有光度測(cè)試（T、A）、定量測(cè)試（C、F）及時(shí)間掃描及光譜掃描等應(yīng)用功能，可進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、保存和調(diào)用。

性能指標(biāo)：

波長(zhǎng)驅(qū)動(dòng)：自動(dòng)

波長(zhǎng)范圍：190~1100nm

波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.5nm

波長(zhǎng)重復(fù)性：0.2nm

光譜帶寬：4nm

透射比準(zhǔn)確度：≤0.3%T

透射比重復(fù)性：0.1%T

透射比范圍：0~200%T

吸光度范圍：-0.4~4A

濃度顯示范圍：0~99999

雜散光：≤0.05%T

穩(wěn)定性：±0.001A/h

噪聲：0.0005A

輸出接口：RS-232

回歸方程：具備

1.按1鍵儀器進(jìn)入自檢狀態(tài)。

2.按0鍵儀器顯示屏顯示“Wait..."等待片刻即跳過(guò)自檢狀態(tài)，進(jìn)入 后一次關(guān)機(jī)前狀態(tài)（非正常關(guān)機(jī)除外）。

3.不按“0"或“1"鍵，儀器進(jìn)入預(yù)熱狀態(tài)，約二十分鐘后自動(dòng)進(jìn)行自檢。

注意事項(xiàng)：

1.自檢前應(yīng)確認(rèn)樣品室內(nèi)樣品架定位正確，無(wú)物品擋住光路。

2.在自檢過(guò)程中切勿打開(kāi)樣品室蓋，推拉樣品架。

3.自檢結(jié)束波長(zhǎng)定位（546nm）后，在顯示“546.0nm ZERO..."過(guò)程中，因?qū)θㄩL(zhǎng)調(diào)0%T，故約需20秒左右，在此時(shí)段時(shí)間，請(qǐng)勿打開(kāi)樣品室蓋。